专利名称：基于光子晶体平行线波导的流体折射率探测器专利类型：发明专利发明人：梁斌明,张礼朝申请号：CN201110067162.3申请日：20110321公开号：CN102156109A公开日：20110817
摘要：本发明公开了一种基于光子晶体平行线波导的流体折射率探测器，其包括有激光器、光子晶体、第一光功率探头和第二光功率探头；所述光子晶体具有相互平行且相同的第一线缺陷波导和第二线缺陷波导，所述激光器位于第一线缺陷波导的左侧，并且向该第一线缺陷波导输入探测光，所述第一光功率探头位于所述第一线缺陷波导的右侧，并测定该第一线缺陷波导输出光的功率，所述第二光功率探头位于所述第二线缺陷波导的右侧，并测定该第二线缺陷波导输出光的功率。本发明具有结构简单、体积小巧、测量精度高、响应速度快、操作方便的优点，适用于流体折射率的大规模快速测量。
申请人：上海理工大学
地址：200093 上海市杨浦区军工路516号
国籍：CN
代理机构：上海新天专利代理有限公司
代理人：祖志翔
更多信息请下载全文后查看
因篇幅问题不能全部显示，请点此查看更多更全内容