专利名称：一种存储器测试系统、方法及存储介质专利类型：发明专利
发明人：李琦,陈雷,李学武,张彦龙,孙华波,张帆,肖阳,刘进,祁
逸,李申
申请号：CN201711373726.X申请日：20171219公开号：CN108648780A公开日：20181012
摘要：本发明一种存储器测试系统、方法及存储介质，该系统包括上位计算机、配置存储器、待测存储器、主控FPGA和验证FPGA。上位计算机通过对主控FPGA发送命令，实现对待测存储器的选择、配置、擦除操作；主控FPGA按照上位计算机命令要求，通过FPGA的内部选择逻辑，将待测存储器与串口、验证FPGA连接，并接收验证FPGA的配置完成管脚DONE信号的电平，对验证FPGA进行复位操作；配置存储器用于对主控FPGA进行配置。本发明可以满足用于FPGA配置的存储器电路在低温环境下长时间保温的测试要求，解决自动测试设备存在时间限制的问题。提高配置存储器在较长时间保持低温测试条件下的测试效率和准确性。
申请人：北京时代民芯科技有限公司,北京微电子技术研究所
地址：100076 北京市丰台区东高地四营门北路2号
国籍：CN
代理机构：中国航天科技专利中心
代理人：张晓飞
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