专利名称：量子探测效率的测量装置专利类型：实用新型专利
发明人：井元庆,王风雷,周余良,夏远祥,伍龙霖申请号：CN201820071216.0申请日：20180116公开号：CN207717995U公开日：20180810
摘要：本实用新型公开了一种量子探测效率的测量装置，该测量装置包括：电机支座、电机、丝杆、丝杆螺母、丝杆支座、钨板托盘、钨板、承接板、上碳纤维板和盒体，电机支座和丝杆支座固定在承接板上，电机固定在电机支座上，丝杆的一端与电机连接，丝杆的另一端固定在丝杆支座上，丝杆上安装有丝杆螺母，丝杆与丝杆螺母之间形成运动副，钨板托盘的两侧分别设置有具有安装孔的弯折部，丝杆穿过其中一个安装孔，使钨板托盘安装在丝杆上，且具有安装孔的弯折部与丝杆螺母固定在一起，将钨板固定在钨板托盘上，承接板固定在盒体内，上碳纤维板固定在盒体外部的上表面，可使线扩散函数数据、噪声功率谱数据和线性数据的获取更为简便，提高测量效率。
申请人：深圳市安健科技股份有限公司
地址：518000 广东省深圳市南山区朗山路华瀚创新园办公楼A座408室
国籍：CN
代理机构：深圳市恒申知识产权事务所(普通合伙)
代理人：欧志明
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